(多选题) 光路调整与薄透镜焦距测定中用到的主要实验元件包括： A. 光具座 B. 薄凸透镜 C. 光源 D. 带有平面镜的像屏 正确答案： ABCD
（多选题）光路共轴调节是将那些光学元件的几何中心调至等高： A. 光具座 B. 透镜 C. 光源 D. 带有平面镜的像屏 正确答案： BCD
可以同时测量透镜正、反两面焦距，减少系统误差的主要原因是： A. 因为物平面（1字光源）不在其中心轴上 B. 因为透镜正反面的焦距不同 C. 因为透镜中心和滑块上的刻度刻线不能完全对齐 正确答案： C
自准直法测量焦距的光路图是下面哪一个? A. B. C. 正确答案： C
自准直法测量凸透镜的焦距时，所成实像在哪里： A. 像屏上 B. 凸透镜上 C. 物平面上 正确答案： C
自准直法测量凸透镜的焦距时，其像的性质为： A. 放大倒立实像 B. 等大倒立实像 C. 缩小正立实像 D. 等大正立实像 正确答案： B
二次成像法测量凸焦距的光路图是下面哪一个? A. B. C. 正确答案： B
二次成像法测量凸透镜焦距实验过程中，物平面和像平面的距离，应大于： A. 2倍焦距 B. 3倍焦距 C. 4倍焦距 D. 5倍焦距 正确答案： C
用二次成像法测量凸透镜焦距实验中，完成每组数据，物屏上至少要成像的次数为: A. 2次 B. 3次 C. 4次 D. 5次 正确答案： C
测量凸透镜焦距的实验中，需要对物平面（1字光源）的位置读数进行修正，其主要原因是： A. 因为物平面（1字光源）不在其中心轴上 B. 因为透镜正反面的焦距不同 C. 因为透镜中心和滑块上的刻度刻线不能完全对齐 正确答案： A